產品介紹

XTS X射線卷封及緊密度掃描儀系列，行業(yè)專/利產品

SEAMscan XTS™ 無損卷封檢測系統(tǒng)，即X射線緊密度掃描儀是一款全新的，無損傷且獨立運行的二重卷封和卷封緊密度檢測儀器。卷封結構原自然狀態(tài)檢測，系統(tǒng)提高精度，節(jié)約時間，節(jié)省大量的檢測成本。

專為制罐商和罐裝廠打造的SEAMscan XTS™無損卷封檢測系統(tǒng)擁有高分辨率的卷封檢測和功能強大的緊密度自動檢測系統(tǒng)，儀器結構緊湊，操作簡便。

無損傷檢測，節(jié)約大量的檢測樣品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整檢測二重卷封內部結構尺寸。

SEAMscan XTS™僅不損傷檢測樣品的優(yōu)勢，就能為制罐商和罐裝廠節(jié)約數(shù)以十萬計的成本。經過二重卷封蓋鉤皺紋度（卷封緊密度），以及前面提到的卷封內部結構尺寸檢測的產品，還能100%的用于銷售。SEAMscan XTS™同時能達到FDA對二重卷檢測的標準。

SEAMscan XTS也是一款能*適應生產工廠環(huán)境的二重卷封檢測工具，既實現(xiàn)從卷封外部評估二重卷封質量，又節(jié)約檢測成本。

不再需要剝離拆卸卷封

世界*與首/創(chuàng)，質檢人員不再需要拆卸卷封來查看蓋鉤的皺紋度。SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀自動掃描全部蓋鉤的皺紋度，測量并報告客觀的緊密度數(shù)值。

采用專/利技術的SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀，無需人員參與檢測，能耗更低，采用無損傷的X射線檢測二重卷封內部結構。

“我們在20世紀90年代就能夠通過我們的SEAMscan軟件配合投影設備檢測蓋鉤皺紋度”CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann說道,“但是那套系統(tǒng)僅看到從二重卷封上拆卸下來的蓋鉤的表面影像。XTS不單單是在不損傷卷封的情況下檢測蓋鉤皺紋度，檢測的詳細程度也是比傳統(tǒng)檢測方式高出很多。”

不再評估緊密度，而是測量緊密度

人為錯誤已經成為過去——至少在二重卷封領域。

X射線緊密度掃描儀檢測二重卷封結構尺寸，以及僅有的專/利技術準確的測量卷封內部的皺紋度。蓋鉤皺紋度的檢測結果會自動發(fā)送到電腦數(shù)據(jù)庫，電腦可以實時顯示卷封質量變化趨勢分析結果。

轉用的X射線穿過二重卷封，探測蓋鉤形狀的微妙變化。電腦通過程序算法分析卷封內部各個部位的變化情況，以確定是否對卷封的密封情況造成影響。檢測結果可以使緊密度百分比，亦或是皺紋度或緊密度平均值的形式顯示。

通過行Virtual Seam Teardown™（卷封虛擬拆卸）功能，可以看到身鉤和蓋鉤彼此疊接的真實情況，是以往無法想象的。

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技術參數(shù)